特点
• 此光学系统最初是为畅销的 FS60 型 (后升级为 FS70 型) 而开发的。它是作为测量检测半导体器件的显微镜的理想选择。
• FS70L 支持3 种YAG 激光波长(1064nm,532nm, 355nm),FS70L4 支持2 种波长(532nm, 266nm),可在半导体和液晶基板中使用薄膜激光切割技术。这就扩大了激光的使用范围。然而,对用于显微镜的激光系统的性能和安全性,三丰公司不负责任。我们推荐在选购激光发射器时应仔细检查。
• FS70Z 的标准功能有:亮视场,微分干涉对比 (DIC) 和偏振观测。FS70L 和FS70L4不支持 DIC。
• 使用内置式转换器使得长工作距离物镜的操作很简单。
• 极易操作的设计:FS70 采用正像光学系统 (视场中的像与样品方向相同) 并用橡胶把手加大微调手轮。